C9920-03；绝对量子产率光谱仪采用 PL（光致发光）方法快速准确地测量绝对量子产率。 其设置包括激发光源、单色仪、能够产生氮气流的积分球和用于同时检测整个光谱范围的 CCD 光谱仪。专用软件简化了操作。两个样品架可用于薄膜、粉末和存放液体样品的比色皿。因此，C9920-03 系统可用于工业、生物和学术研究等多个领域。

C9920-02G；绝对量子产率光谱仪采用 PL（光致发光）方法快速准确地测量绝对量子产率。 其设置包括激发光源、单色仪、能够产生氮气流的积分球和用于同时检测整个光谱范围的 CCD 光谱仪。专用软件简化了操作。两个样品架可用于薄膜、粉末和存放液体样品的比色皿。因此，C9920-02G 系统可用于工业、生物和学术研究等多个领域。

C9920-02；绝对量子产率光谱仪采用 PL（光致发光）方法快速准确地测量绝对量子产率。 其设置包括激发光源、单色仪、能够产生氮气流的积分球和用于同时检测整个光谱范围的 CCD 光谱仪。专用软件简化了操作。两个样品架可用于薄膜、粉末和存放液体样品的比色皿。因此，C9920-02 系统可用于工业、生物和学术研究等多个领域。

C13534-12 设计用于使用光致发光法测量发光量子产率的瞬时绝对值。（400 nm 至 1100 nm）。此外，使用新设计的选件可轻松扩展的功能，可在高达 1650 nm 的近红外光下以高灵敏度（评估低量子产率）和上变频发光进行测量。

C13534-11 设计用于使用光致发光法测量发光量子产率的瞬时绝对值。（300 nm 至 950 nm）。此外，使用新设计的选件可轻松扩展的功能，可在高达 1650 nm 的近红外光下以高灵敏度（评估低量子产率）和上变频发光进行测量。

Quantaurus-QY 是一种紧凑、易于使用的仪器，用于测量光致发光材料的量子产率。它执行绝对测量，并且不需要传统相对方法时通常需要的已知参考标准。可以分析不同形式的样品——薄膜、固体、粉末和溶液。液体样品可用液氮冷却至 -196 ̊C (77K)。 C11347-12：NIR 类型（波长 400 nm 至 1100 nm）。

Quantaurus-QY 是一种紧凑、易于使用的仪器，用于测量光致发光材料的量子产率。它执行绝对测量，并且不需要传统相对方法时通常需要的已知参考标准。可以分析不同形式的样品——薄膜、固体、粉末和溶液。液体样品可用液氮冷却至 -196 ̊C (77K)。 C11347-11：标准型（波长 300 nm 至 950 nm）。

ODPL 测量系统使用积分球来测量全向光致发光光谱并确定样品的发射效率。此过程是非破坏性和无接触的，可以立即计算 IQE（内部量子效率）。IQE 是 GaN 单晶体质量评估所必需的，GaN 单晶体作为功率器件材料受到瞩目。对钙钛矿晶体的质量评估也有必要，预计这些元素有助于提高太阳能发电和 LED 的效率。 *ODPL：全向光致发光

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统，将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度，光谱在许多用途中都很容易获得，只需将光纤靠近样品，而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造，PMA-12 稳定可靠，可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准，因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C14631-03 是高灵敏度、性价比卓越的型号。（300 nm 至 1040 nm）

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统，将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度，光谱在许多用途中都很容易获得，只需将光纤靠近样品，而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造，PMA-12 稳定可靠，可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准，因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C14631-02 是高灵敏度、性价比卓越的型号。（250 nm 至 840 nm）

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统，将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度，光谱在许多用途中都很容易获得，只需将光纤靠近样品，而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造，PMA-12 稳定可靠，可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准，因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C14631-01 是高灵敏度、性价比卓越的型号。（300 nm 至 800 nm）

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统，将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度，光谱在许多用途中都很容易获得，只需将光纤靠近样品，而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造，PMA-12 稳定可靠，可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准，因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C10028-02 是近红外型号。（1600 nm 至 2350 nm）

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统，将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度，光谱在许多用途中都很容易获得，只需将光纤靠近样品，而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造，PMA-12 稳定可靠，可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准，因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C10028-01 是近红外型号。（900 nm 至 1650 nm）

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统，将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度，光谱在许多用途中都很容易获得，只需将光纤靠近样品，而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造，PMA-12 稳定可靠，可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准，因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C10027-02 是超高灵敏度型号。（350 nm 至 1100 nm）

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统，将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度，光谱在许多用途中都很容易获得，只需将光纤靠近样品，而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造，PMA-12 稳定可靠，可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准，因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C10027-01 是超高灵敏度型号。（200 nm 至 950 nm）

PMA-12 是一款紧凑的光谱测量系统，将光谱仪和光电探测器组合成一个装置。由于高灵敏度，光谱在许多用途中都很容易获得，只需将光纤靠近样品，而无需连接到特殊的光采集系统即可。由于光谱仪和光电探测器以高机器精度制造，PMA-12 稳定可靠，可以放心地长时间使用。波长轴和光谱灵敏度特性已经校准，因此可以轻松准确地进行光谱测量。 C14880-01 可实现低杂散光，并通过查看光学布局实现高精度光谱分析。通过使用带有内置制冷元件的传感器，可实现低噪声和高可再现性测量。

倒置光发射显微镜是一种背面分析系统，旨在通过检测半导体器件缺陷发射的光和热来识别故障位置。 从背面检测信号便于在晶圆表面使用探测卡和探针卡，样品设置可以顺利进行。该平台可以安装多个探测器和激光器，能够选择最佳探测器，以执行各种分析方法，例如光发射和热生成分析、IR-OBIRCH 分析等；此外，通过测试仪连接，使动态分析能够高效执行。 ●iPHEMOS-DD 通过直接连接到 LSI 测试仪，可以减少由于连接电缆长度造成的信号延迟，并且可以对高速驱动样本进行分析。直接对接专用探针器可将多针指针连接到 300 mm 晶圆上，并且通过附加选件，可通过操作器执行封装分析和针指针连接。

PHEMOS，能够适应未来 PHEMOS-X 是一款高分辨率微光显微镜，它能通过探测半导体器件缺陷导致发射的微弱光和热来定位失效位置。